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  • ECM-100日本J-RAS離子遷移試驗裝置(CAF)
    ECM-100日本J-RAS離子遷移試驗裝置(CAF)
    日本J-RAS離子遷移試驗裝置(CAF)是一種信賴性試驗設備,原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓( BIAS VOLTAGE ), 經過長時間的測試(1 ~1000 小時)并觀察線路是否有瞬間短路的現象發生( ION MIGRATION ), 并記錄電阻值變化狀況,故又叫做 CAF試驗,絕緣阻力電阻試驗,或者是 OPEN/SHORT 試驗,我們將其統稱為絕緣劣化試驗。
    更新時間:2025-07-04    訪問量:3455    型號:ECM-100
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  • HVUα-2000J-RAS離子遷移試驗裝置(CAF)
    HVUα-2000J-RAS離子遷移試驗裝置(CAF)
    J-RAS離子遷移試驗裝置(CAF)是一種信賴性試驗設備,原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓( BIAS VOLTAGE ),經過長時間的測試(1 ~1000 小時)并觀察線路是否有瞬間短路的現象發生( ION MIGRATION ),并記錄電阻值變化狀況,故又叫做 CAF試驗,絕緣阻力電阻試驗,或者是 OPEN/SHORT 試驗,我們將其統稱為絕緣劣化試驗。
    更新時間:2025-07-04    訪問量:3582    型號:HVUα-2000
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  • HVUα-1000V日本J-RAS離子遷移試驗裝置(CAF)
    HVUα-1000V日本J-RAS離子遷移試驗裝置(CAF)
    日本J-RAS離子遷移試驗裝置(CAF) CAF試驗/CAF測試是一種信賴性試驗設備,原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓( BIAS VOLTAGE ),經過長時間的測試(1 ~1000 小時)并觀察線路是否有瞬間短路的現象發生( ION MIGRATION ),并記錄電阻值變化狀況,故又叫做 CAF 試驗,絕緣阻力電阻試驗,或者是 OPEN/SHORT 試驗,我們將其統稱為絕緣劣化試驗。
    更新時間:2025-07-04    訪問量:36897    型號:HVUα-1000V
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  • HVUα_3000V3000V離子遷移試驗裝置
    HVUα_3000V3000V離子遷移試驗裝置
    3000V離子遷移試驗裝置是一種信賴性試驗設備,原理為印刷電路板上給予一固定的直流電壓( BIAS VOLTAGE ),經過長時間的測試(1 ~1000 小時)并觀察線路是否有瞬間短路的現象發生( ION MIGRATION ), 并記錄電阻值變化狀況。在高溫高濕條件下,對電子零部件以及印刷電路板的絕緣部分測試電阻值,也能夠進行高效率的絕緣可靠性評估。$n適用規格 : JPCA- - ET01-
    更新時間:2025-07-04    訪問量:1921    型號:HVUα_3000V
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  • HVUα-3000VJ-RAS離子遷移試驗裝置(CAF)
    HVUα-3000VJ-RAS離子遷移試驗裝置(CAF)
    J-RAS離子遷移試驗裝置(CAF),在高溫高濕條件下,對電子零部件以及印刷電路板的絕緣部分測試電阻值,也能夠進行高效率的絕緣可靠性評估。
    更新時間:2025-07-04    訪問量:2114    型號:HVUα-3000V
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  • RTm-30DC導通電阻試驗裝置
    RTm-30DC導通電阻試驗裝置
    導通電阻試驗裝置RTm-30DC并記錄電阻值變化狀況,故又叫做 CAF試驗,絕緣阻力電阻試驗,或者是 OPEN/SHORT 試驗,我們將其統稱為絕緣劣化試驗。
    更新時間:2025-07-04    訪問量:2718    型號:RTm-30DC
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